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    涂層測厚儀TIME2500 涂層測厚儀-TIME2500 時代儀器 完全替代TT220 洽詢
    智能涂層測厚儀TT260+w101 智能涂層測厚儀-TT260+w101 時代儀器 使用環境溫度:0~40℃  洽詢
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    薄膜測厚儀Millimar 1240 薄膜測厚儀-Millimar 1240 德國馬爾Mahr 顯示: 模擬/數字 洽詢
    薄膜測厚儀Millimar S1840 薄膜測厚儀-Millimar S1840 德國馬爾Mahr 動態測量:Max, Min, Max-Min, Max+Min,平均值 洽詢
    涂層測厚儀Elcometer 456 涂層測厚儀-Elcometer 456 英國易高 最小基體厚度 300μm(12mils),除非有特殊的校準調節  洽詢
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    高性能X射線熒光測量儀XAN 250/252 高性能X射線熒光測量儀-XAN 250/252 德國菲希爾Fischer RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量 洽詢
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    X 射線熒光測試儀XDV -μ X 射線熒光測試儀-XDV -μ 德國菲希爾Fischer 可以對100μm或更小的結構進行分析 洽詢
    臺式涂層測厚儀MMS PC2 臺式涂層測厚儀-MMS PC2 德國菲希爾Fischer 用于涂層厚度測量和材料測試 洽詢
    涂鍍層測厚儀QNix4500 涂鍍層測厚儀-QNix4500 德國尼克斯 顯示精度 1μm;  0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm 
     
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    涂層測厚儀TT290 涂層測厚儀-TT290 時代儀器 測量范圍 0-1250μm 洽詢
    筆式涂層測厚儀PENTEST 筆式涂層測厚儀-PENTEST 德國EPK 測量范圍: 25-700um或1-28mils 洽詢
    高精度覆層測厚儀TIME2605 高精度覆層測厚儀-TIME2605 時代儀器 精度1%H+1um,測量范圍至1500um 洽詢
    STODA涂層測厚儀STD2200 STODA涂層測厚儀-STD2200 國產 測量范圍:0~1250μm 洽詢
    超聲波涂層測厚儀QuintSonic 7 超聲波涂層測厚儀-QuintSonic 7 德國EPK 測量范圍:300 μm, 700 μm, 1,5 mm, 3,1 mm, 5,9 mm(2375 m/s 聲速在所有層) 洽詢
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    高性能X射線熒光測試儀XDV -SDD 高性能X射線熒光測試儀-XDV -SDD 德國菲希爾Fischer 可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素 洽詢
    鐵基涂層測厚儀CM-8825 鐵基涂層測厚儀-CM-8825 蘭泰 使用環境:溫度:0-40℃ 濕度:10-90%RH<br>
      準確度:±(1~3%n)或±2um<br>
      公制/英制:可轉換<br>
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